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采用紋影方法又稱施利倫(Schlieren)方法,是一種經典的光學顯示技術,用于顯示透明物質中因種種原因而引起的折射率不均勻。透明物質中折射率的變化,引起透過光線的不均勻偏折,因而導致了最終成像平面上照度的變化(把具有高時間分辨本領的高速相機與紋影儀結合起來,便成為高速紋影儀)
我們是專業的生產廠家,生產研制范圍包括光纖爆速儀,爆溫儀(瞬態高溫測量儀)等等。
l 速度測試:擁有多普勒全光纖激光干涉測速儀、無源光纖探針測試系統、光網靶彈丸測速系統等多種速度測試手段。 l 溫度測試:擁有瞬態光學高溫測試系統、比色高溫計、面測溫等多種測試手段。 l 成像檢測:擁有紋影系統、超高速相機、粒子場全息成像等多種檢測手段。
如需進一步了解,可以加QQ253094234
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